薄膜ディスプレイ品質保証用の広帯域複屈折測定装置の開発

研究課題

体系的番号	JPMJTM19AX
DOI	https://doi.org/10.52926/JPMJTM19AX
研究代表者	東口武史宇都宮大学, 工学部, 教授
研究期間 (年度)	2019 – 2020 (予定)
概要	フレキシブル基板，フィルム，樹脂，透明電極，接着剤などをマルチ波長でインライン計測し，高品質管理することが強く求められている，低価格の超広帯域光源を開発し，短時間時間での複屈折位相差計測法を開発する．