ノイズの画像化によるトポロジカル材料の電子ダイナミクスの解明
| 体系的番号 |
JPMJPR20L1 |
| DOI |
https://doi.org/10.52926/JPMJPR20L1 |
研究代表者 |
翁 銭春 理化学研究所, 開拓研究本部, 基礎科学特別研究員
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| 研究期間 (年度) |
2020 – 2023
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| 概要 | 現実的なトポロジカル材料・デバイスには、さまざまな散乱および散逸チャネルが存在します。しかし、その基礎的な散乱・散逸のダイナミクスは、有効な実験方法がないため、直接解明することは困難でした。本研究では、走査ノイズ顕微鏡（SNoiM）と呼ばれる新しい顕微鏡を開発して、トポロジカル材料の表面でナノスケール電荷輸送とエネルギー散逸を直接可視化し、局所的な散乱・散逸のメカニズムを解明します。
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| 研究領域 | トポロジカル材料科学と革新的機能創出 |
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