ダブルパルス試験法とディープラーニング画像解析を統合したパワーエレクトロニクス用磁気部品向け実動作環境下ビヘイビアモデリングシステム開発

研究課題

体系的番号	JPMJTM20HA
DOI	https://doi.org/10.52926/JPMJTM20HA
研究代表者	石塚洋一長崎大学, 工学研究科, 准教授
研究期間 (年度)	2020 – 2021
概要	本申請の目的は，すでに一部の結果を得ているダブルパルス試験法と当該計測波形等画像データのディープラーニングによる画像解析を統合したパワー半導体素子評価手法の，パワーエレクトロニクス用磁気部品の矩形波大信号評価のための応用開発である。データドリブン型のパラメータ評価やビヘイビアモデリング法を確立し，損失評価値やインダクタンス等の各パラメータ値が，実際の5%程度以内に収める事を最終の目標とし，実験との比較により検証を行う。本実動作レベルによる計測と人間を超越した画像解析技術の統合により得られた高精度な評価パラメータや非線形モデルは，パワーエレクトロニクスのフロントローディング設計に大きく貢献する。