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インライン全数検査を目指す光コム干渉イメージング

研究課題

産学が連携した研究開発成果の展開 研究成果展開事業 研究成果最適展開支援プログラム(A-STEP) トライアウト トライアウト

体系的番号 JPMJTM20C6
DOI https://doi.org/10.52926/JPMJTM20C6

研究代表者

塩田 達俊  埼玉大学, 理工学研究科, 准教授

研究期間 (年度) 2020 – 2021
概要申請者は、これまでに2次元の奥行断層画像をシングルショットで撮像できる光計測システムを開発してきた。同手法は、2次元イメージセンサを用いてシングルショットで2次元断層画像を撮像できるうえに、光コム干渉を用いるために深さ方向の計測範囲を結像光学系で決まる限界の100倍に実質拡大できる。また、走査や演算を必要とせずに通常のカメラとは直交した断面を測定できるので、シャッタースピードをナノ秒台に高速化するとロバスト性を圧倒的に向上することが可能である。そこで、本研究課題は、これらの技術シーズを自動車、医療用部品などの量産ラインの検査に応用することを前提に、インライン全数検査が可能な検査機を開発する。

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JSTプロジェクトデータベース掲載開始日: 2020-12-16   JSTプロジェクトデータベース最終更新日: 2025-03-26  

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