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微細形状測定用高機能スタイラスの開発

研究課題

産学が連携した研究開発成果の展開 研究成果展開事業 研究成果最適展開支援プログラム(A-STEP) トライアウト トライアウト

体系的番号 JPMJTM20H2
DOI https://doi.org/10.52926/JPMJTM20H2

研究代表者

村上 洋  北九州市立大学, 国際環境工学部, 准教授

研究期間 (年度) 2020 – 2021
概要近年、立体的で微細な三次元形状が増加しており、これらを精密に測定するニーズ(例えば半導体チップの小径穴:直径10µm以下)が増加している。上記要求に応えるために、これまでに光ファイバをスタイラスとして用いた測定装置の開発を行ってきた。しかし、スタイラスの直径が数µm以下になると、表面間力の影響でスタイラスが測定対象面に付着すると同時に気流や振動の影響でスタイラスが振れやすくなり測定精度が悪化する問題が生じる。そこで、本研究では付着防止のためのスタイラスへの撥水・帯電防止コーティング塗布技術および振れ防止を目的としたひんじ付き2段スタイラスの開発(先端部直径0.5µm以下)を目標とする。

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JSTプロジェクトデータベース掲載開始日: 2020-12-16   JSTプロジェクトデータベース最終更新日: 2025-03-26  

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