| 体系的番号 |
JPMJMI20G2 |
| DOI |
https://doi.org/10.52926/JPMJMI20G2 |
研究代表者 |
河野 行雄 東京工業大学, 科学技術創成研究院 未来産業技術研究所, 准教授
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| 研究期間 (年度) |
2020 – 2022 (予定)
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| 概要 | 超解像の赤外分光画像計測に光情報処理技術を有機的に組み込むことで、独自の“計測・解析統合アプローチ”に基づく新規な赤外計測ツールを創出し、メーカーの開発・製造現場における実用的な分析法として貢献する。• 現状において、デバイスや材料の高精度な分析を行う際、大型の装置が必要、真空や低温等の特殊な環境が必要、測定に長時間を要する、試料に損傷を与える場合がある等の課題がある。• 赤外分光イメージングのための独自の計測・解析融合を確立し、画像鮮明化、高速計測化を実現する。• 超解像赤外顕微鏡へ情報処理技術を能動的に組み込むことは挑戦的な課題であるが、研究開発や製造現場におけるその場分析に大きな波及効果を与えると期待できる。
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| 研究領域 | 共通基盤「革新的な知や製品を創出する共通基盤システム・装置の実現」 |
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