電子線を用いた多次元多空間ナノスケール光計測

研究課題

体系的番号	JPMJFR213J
DOI	https://doi.org/10.52926/JPMJFR213J
研究代表者	三宮工東京工業大学, 物質理工学院, 准教授
研究期間 (年度)	2022 – 2028 (予定)
概要	電子線を用いることで、光の波長限界をはるかに超えた空間スケールで、多次元・多空間的に光計測を行い、新たなナノ光計測・光デバイス応用の基盤を創ります。光速の50%程度まで加速された高エネルギーの電子線は、1nmスケールの白色点光源として機能し、コヒーレント発光においては光電場分布を計測できるだけでなく、電子線スキャンと同時に角度分解を行うことで面内運動量計測も可能な、多次元計測が可能になります。
研究領域	北川パネル

報告書

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