| 体系的番号 |
JPMJMI21G3 |
| DOI |
https://doi.org/10.52926/JPMJMI21G3 |
研究代表者 |
雨澤 浩史 東北大学, 多元物質科学研究所, 教授
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| 研究期間 (年度) |
2021 – 2023 (予定)
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| 概要 | X線コンピュータ断層撮影－X線吸収端微細構造（X線CT-XAFS）計測を基盤とし，デバイス・材料の深部・内部における微細構造，物理化学状態や重/軽元素の分布を評価できる3Dマルチスケール/モーダルオペランド化学分析プラットフォームを開発する。これを用い，デバイス・材料における機能発現状況を把握し，性能向上，劣化抑制のための支配要因の特定，品質管理・評価のための破損部位・不純物の検出を可能とする。さらに，得られる情報を加味した連成数値解析へと展開することで，デバイス内部で生じる現象を俯瞰的に理解するツールとする。本研究では蓄電池を主たる計測対象とするが，開発される化学分析プラットフォームは，各種電池・燃料電池，電解システム，半導体，複合材，触媒など，幅広い様々なデバイス・材料の評価への適用が期待される。
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| 研究領域 | 共通基盤「革新的な知や製品を創出する共通基盤システム・装置の実現」 |
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