| 体系的番号 |
JPMJER2202 |
| DOI |
https://doi.org/10.52926/JPMJER2202 |
研究代表者 |
柴田 直哉 東京大学, 大学院工学系研究科, 教授
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| 研究期間 (年度) |
2022 – 2027
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| 概要 | 極低温までの温度範囲で、１原子よりも狭い範囲の電磁場を観察できる走査透過電子顕微鏡法（STEM）の確立を目指す。超伝導のような極低温で生じる物性、電子線による熱に弱い生体試料、半導体材料の電子状態などの、今までにない分解能での顕微鏡画像を実現する。「百聞は一見に如かず」であり、基礎科学、産業界における先端計測の新たな潮流の創出に挑戦する。
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