あらゆる機能性材料の空準位の迅速解析が可能な高感度低エネルギー逆光電子分光装置
  
  
  
 
  
  
   
    
    
     
      | 体系的番号 | 
      JPMJTM22B0 | 
     
    
    
     
      | DOI | 
      https://doi.org/10.52926/JPMJTM22B0 | 
     
    
    
      
        
          研究代表者 | 
          
          吉田 弘幸  千葉大学, 大学院工学研究院, 教授
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     | 研究期間 (年度) | 
     
      2022 – 2023
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    | 概要 | 代表者が開発した低エネルギー逆光電子分光(LEIPS)は、0.1eVの精度で機能性材料の空準位を測定する手法である。ユーザーが増えるに従い、測定の迅速化、粉体や厚膜のような測定困難な材料の測定という次段階のニーズが現れてきた。本研究では、光検出を10倍に高感度化、電子線を1/4に低密度化することで、測定可能な試料を飛躍的に増やし、測定時間を30分以内にする。
    
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