半導体ハードウェアセキュリティを強化するナノX線源の開発
| 体系的番号 |
JPMJAX22K7 |
| DOI |
https://doi.org/10.52926/JPMJAX22K7 |
研究代表者 |
澁谷 達則 産業技術総合研究所, 計量標準総合センター, 研究員
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| 研究期間 (年度) |
2022 – 2024
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| 概要 | 半導体デバイスを狙ったサイバー攻撃が全世界的に増加しています。しかし、半導体の持つナノ構造を非破壊的に計測することは難しく、サイバー攻撃パラメータと半導体ナノ構造パラメータの紐付けはできていません。そこで本研究では、ナノレベルの非破壊測定を実現するために、レーザー誘導ナノ化技術を応用した新しいナノX線源の実現を目指します。
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| 研究領域 | リアル空間を強靭にするハードウェアの未来 |
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