深層学習を用いた次世代電子線トモグラフィー技術の開発
| 体系的番号 |
JPMJPR23JD |
| DOI |
https://doi.org/10.52926/JPMJPR23JD |
研究代表者 |
山本 知一 九州大学, 大学院工学研究院, 助教
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| 研究期間 (年度) |
2023 – 2026
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| 概要 | 本研究では、4D-STEMによる回折イメージングおよびSTEM-EDX/EELSによる元素・化学状態マッピング、深層学習による画像復元技術を高度に組み合わせることにより、これまでにない正確性で原子配列を3D再構成できる新しいマルチモーダル電子線トモグラフィー技術を開発します。それにより、多結晶性材料中の格子欠陥や表面・界面などの非周期原子配列の3D解析の実現を目指します。
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| 研究領域 | 計測・解析プロセス革新のための基盤の構築 |
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