電子線照射を活用した原子分解能その場観察法の開発と材料研究への応用
| 体系的番号 |
JPMJPR23JB |
| DOI |
https://doi.org/10.52926/JPMJPR23JB |
研究代表者 |
馮 斌 東京大学, 大学院工学系研究科, 特任准教授
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| 研究期間 (年度) |
2023 – 2026
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| 概要 | 本研究ではサブÅ空間分解能を有する走査型透過電子顕微鏡(STEM)をベースに電子線照射を活用し、外場印加特殊ホルダーと高度に融合することで、原子分解能STEMその場観察法の確立を目指す。更にこの手法を様々な材料に応用することにより、これまで原子レベル解析が極めて困難であった格子欠陥ダイナミクス過程を原子レベルから解明する。
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| 研究領域 | 計測・解析プロセス革新のための基盤の構築 |
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