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計算データに基づく電子分光計測の統計モデリング

研究課題

戦略的な研究開発の推進 戦略的創造研究推進事業 さきがけ

体系的番号 JPMJPR24J5

研究代表者

柴田 基洋  東京大学, 生産技術研究所, 助教

研究期間 (年度) 2024 – 2027
概要電子状態に関する分光データには、豊富な情報が含まれています。しかし、スペクトルの形成原理の複雑さなどから、複数の計測成分やノイズが重畳した実際の計測に対しては定量的な解析手法が確立されていません。本研究では、第一原理計算で得られる電子分光計測データについての機械学習と統計モデリングを組み合わせることで、スペクトル成分の特定や分離、物性・構造情報の抽出を定量的に行う手法の開発を目指します。
研究領域計測・解析プロセス革新のための基盤の構築

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JSTプロジェクトデータベース掲載開始日: 2024-12-19   JSTプロジェクトデータベース最終更新日: 2025-03-26  

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