| 体系的番号 |
JPMJPR24J2 |
研究代表者 |
数間 恵弥子 東京大学, 大学院工学系研究科, 准教授
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| 研究期間 (年度) |
2024 – 2027
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| 概要 | 原子・分子スケールとマクロスケールの表面反応分析をシームレスにつなげ、整合的に扱うことができる一連の計測データを同一試料表面で入手可能な独自の計測基盤を構築する。表面の活性点の原子レベル構造、電子状態、吸着分子の局所の反応性、マクロスコピックな反応性との相関を実験的に解明し、得られたデータを理論モデルのパラメータとして活用することで、触媒分野におけるマテリアルズ・インフォマティクスに貢献する。
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| 研究領域 | 計測・解析プロセス革新のための基盤の構築 |
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