| 体系的番号 |
JPMJPR24H8 |
研究代表者 |
張 奕勁 東京大学, 生産技術研究所, 助教
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| 研究期間 (年度) |
2024 – 2027
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| 概要 | 本研究では、顕微光学測定を中心としたアプローチから二次元物質やそのvan der Waals積層のナノデバイスの研究を行います。極低温や高磁場を印加した特殊環境において電気伝導測定と顕微分光測定を同時に行うことで、未開拓であった領域における新奇物性や機能性を開拓します。また、van der Waals積層の作製途中に顕微分光などのその場物性評価を行う新しい研究スタイルの構築も目指します。
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| 研究領域 | 新原理デバイス創成のためのナノマテリアル |
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