革新的電子顕微鏡法の開発と材料研究への応用

研究課題

体系的番号	JPMJFR245V
研究代表者	関岳人東京大学, 大学院工学系研究科, 講師
研究期間 (年度)	2026 – 2032 (予定)
概要	走査透過電子顕微鏡は、材料内部の原子スケール構造を観察できる重要な解析手法です。新型検出器の登場により、大規模データの取得が可能になりましたが、十分に活用されていません。本研究では、新型検出器により取得したデータから、原子配列、スピン配列、原子振動、化学結合などの情報を抽出する手法を開発し、材料局所領域に応用することで、材料の局所構造解析に応用して、材料科学の根本的な課題の解明を目指します。
研究領域	古原パネル