高性能フォトリフラクティブ液晶の開発とその小型レーザー超音波非接触計測装置への応用

研究課題

体系的番号	JPMJTR25T7
研究責任者	佐々木健夫東京理科大学, 理学部第二部, 教授
研究期間 (年度)	2025 – 2027 (予定)
概要	本課題ではフォトリフラクティブ液晶組成物を用いた新しいレーザー超音波測定装置を開発する。レーザー超音波法は物体の形状や内部構造を非接触で計測する手法の一つである。液晶を用いることで高感度・小型化が可能になる。レーザーパルスの照射によって被検体に生じた超音波振動を別のレーザーと液晶によって検出する。液晶は応答が高速なので測定環境の振動に影響されず正確かつ迅速な測定ができる。小型でポータブルなレーザー超音波測定装置が実現できれば、工業製品のインライン検査や、近年必要性が高まっているインフラ建造物の劣化診断、さらに学術資料の分析など幅広い分野で利用できる。