Ｘ線分子動態計測群による接着界面オペランド高精度解析技術の確立（仮称）
| 体系的番号 |
JPMJKP26W3 |
研究代表者 |
佐々木 裕次 東京大学, 大学院新領域創成科学研究科, 教授
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| 研究期間 (年度) |
2026 – 2029 (予定)
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| 概要 | 接着界面を評価するには、時間と共に変化する界面の動的挙動を捉えることが重要で、超高精度の時間分解能での分子動態計測が不可欠です。しかし空間3次元と時間軸を統合した4次元高速動態計測はこれまで実現されていませんでした。 本研究開発では、独自に開発した超高精度の動態計測群を炭素繊維（CF）や炭素繊維複合材料（CFRP）に適用し、中性子計測や核磁気共鳴（NMR）などの静的計測法との対比で動態計測群の優位性を実証します。これにより、従来の構造評価法では見えなかった「動的構造秩序と機能相関」を明らかにします。さらにDX化による計測の自動化・高速化と計測プロトコルの標準化を推進し、本動態計測群の国際標準化を目指します。
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| 研究領域 | 「輸送機等の革新的な構造を実現する複合材料等の接着技術」に関する研究開発構想（個別研究型） |
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