| 体系的番号 |
JPMJER8903 |
| DOI |
https://doi.org/10.52926/JPMJER8903 |
研究代表者 |
外村 彰 (株)日立製作所, 基礎研究所, 主管研究長
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| 研究期間 (年度) |
1989 – 1994
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| 概要 | 電子は、小さな領域を観察する有力な手段です。本プロジェクトでは、電子の持つ波の性質を利用して物質の構造や性質を計測する技術、いわゆる電子干渉計測を、より高度な汎用性の高いものに発展させるとともに、それを様々な物質の計波に応用する研究を進めました。その結果、液晶パネルを用いたリアルタイムホログラフィ、200分の1波長以下の位相変化を検出できる位相シフト干渉法、電磁場の三次元分布計測法など、いくつかの新しい干渉計測技術を確立しました。また、これらの技術を用いて、磁区・磁壁の変化の動的な観察、生体物質の無染色正焦点観察、空間磁場の三次元計測、収差補正による分解能の向上などの応用計測を実現しました。こうした基礎、応用にわたる研究により、電子干渉計測に新たな展開をもたらすことができました。
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