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ナノサイズ一次元構造の電子物性評価

研究課題

戦略的な研究開発の推進 戦略的創造研究推進事業 さきがけ

体系的番号 JPMJPR02AG
DOI https://doi.org/10.52926/JPMJPR02AG

研究代表者

長谷川 幸雄  東京大学, 物性研究所, 助教授

研究期間 (年度) 2002 – 2005
概要ナノテクノロジーを考える上で、ナノスケールのサイズを持つ構造の電子状態や電気伝導特性を評価することは重要です。特殊環境化で動作する走査トンネル顕微鏡(STM)や原子間力顕微鏡(AFM)を用いて、ナノサイズの幅を持つリング構造の電子状態が磁場によってどのように変化するかを観察することによってその電気伝導特性や散乱現象を明らかにするなど、ナノスケールでの観点からその物性を捉えます。
研究領域情報、バイオ、環境とナノテクノロジーの融合による革新的技術の創製

報告書

(1件)
  • 2005 終了報告書 ( PDF )

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JSTプロジェクトデータベース掲載開始日: 2016-04-26   JSTプロジェクトデータベース最終更新日: 2025-03-26  

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