STM発光分光法による表面極微細構造の電子物性の研究
| 体系的番号 |
JPMJCR9532 |
| DOI |
https://doi.org/10.52926/JPMJCR9532 |
研究代表者 |
潮田 資勝 東北大学, 電気通信研究所, 教授
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| 研究期間 (年度) |
1995 – 2000
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| 概要 | 走査型トンネル顕微鏡(STM)発光分光、短パルスレーザー励起電子トンネルによる時間分解STM発光分光、近接場光学顕微鏡による観測などの顕微法を駆使して、固体表面の極微細構造、吸着分子系、孤立した単一微粒子などの新奇な電子・光物性を探索します。これらの手法によりナノ構造の物理・化学現象の位置、時間、エネルギーを同時に高分解能で計測することを可能にします。この研究の成果は半導体デバイスの評価やDNA、タンパク分子の構造決定などへの応用が期待されます。
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| 研究領域 | 量子効果等の物理現象 |
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