| 体系的番号 |
JPMJSN04B6 |
| DOI |
https://doi.org/10.52926/JPMJSN04B6 |
| 研究責任者 |
古屋 一夫 (独)物質・材料研究機構, 超高圧電顕共用ステーション, ステーション長
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| 研究期間 (年度) |
2004 – 2006
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| 概要 | 数k～数十keVのエネルギーを持つ正電荷のイオンを、非電気伝導体の物質に照射することにより発生する低エネルギーのX線を測定することで、これまで極めて難しかった物質中のホウ素、炭素、窒素、酸素等の軽元素を高感度で分析する技術を確立します。本技術は小型の収束したイオンビームを用い、X線の新しい検出方式を実用化することで可能となり、他の分析機器とも容易に組み合わせて使用できるものです。
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