研究代表者 |
黒内 利明 栃木県産業技術センター, 機械電子技術部, 特別研究員
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| 研究期間 (年度) |
2006
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| 概要 | 本課題は、電気製品の電磁波適合性試験に要する測定時間の短縮を目的とした研究開発である。あらゆる電気・電子精密機器は不要な電磁波を発生しており、これを防止するため国内法では電気用品安全法に基づく電磁波適合試験(「放射性エミッション試験」J55022)が義務づけられている。この試験は、通常1回の試験時間が72分(水平と垂直の両偏波を測定した当センターの場合)もかかるために測定効率が悪く、迅速な製品開発の妨げとなっている。そこで、測定時間を短縮するには、これまでに開発した「ダブルアンテナ法」、「可変掃引ポイント法」に、試料テーブルの回転角度に対するノイズ強度のヒストグラムを求めてテーブルの最適制御を行う「ヒストグラム制御法」を新たに開発し、この3手法を組み合わせた統合型アプリケーションを実用化する。これにより従来の測定時間を1/18(約4分)にまで短縮し、かつ従来法と同等の精度(±3dB以内)を実現する世界最速の電磁波高速計測システム技術の開発を提案するものである。
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