| 概要 | 本研究は、特許出願した「微小変位法及び装置」を用い、拡散表面をもつ物体からの光散乱場中に生成される光渦場の渦中心に存在する位相特異点の時空間ダイナミックスを利用した新しい光波センシング技術を開拓することを目的とする.本研究の新規性・独創性は干渉計を用いずに記録したスペックルやランダムパターンをRiesz 変換することにより複素解析信号を作り,その位相特異点の位置情報を利用することにより,通常の干渉計測を超える高感度で粗面物体の極微小変位や変形の計測を実現する点にある.干渉計を用いないので床振動や空気擾乱などのある現場での精密計測への実用化が期待される.本研究ではこの原理に基づきサブミクロンから数10nm クラスの分解能をもつ変位・変形の計測システムの構築と実証実験を目指す.
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