| 概要 | 本研究では,超短パルスファイバレーザーと高非線形ファイバを用いて,波長1～2umまで広がる超広帯域連続光スペクトル光を生成し,それを光源とした全ファイバ型の超高分解能な光断層計測システムを開発することを目的とする.この計測システムでは,広帯域光の干渉を用いて,生体の眼や皮下組織,Siの結晶やデバイス,又光学ガラスや光学デバイスなどの試料の内部を,非破壊で,数umの超高分解能で観測することができる.ここでは,まず低雑音で単峰,且つ広帯域に広がる超広帯域光を生成し,更に,この光源と広帯域光デバイスを用いて,全ファイバ型の実用的な光断層計測装置を開発する.
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