研究代表者 |
井尻 和夫 京都府中小企業技術センター, 技術支援部, 専門員
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| 研究期間 (年度) |
2006
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| 概要 | 電子機器の開発には、EMC規制に適合させるためのノイズ対策に電波暗室とスペアナなど高額な装置を多用し、多大な時間を要しているのが現状である。ノイズ問題は、共振系とその過渡応答に起因したもので、スペアナなどの周波数領域の測定器では解析することが困難であり、時間・周波数の両領域の統合的な測定機能を有するノイズ対策のための測定器の開発が求められている。開発しようとする測定器は、次の2つの機能を持つロ-コストEMC対策に必携の測定器であり、ノイズ対策に要するコストと時間を大幅に短縮できる高い有用性が期待できる測定器である。? 電波暗室を使用せずノイズの発生源・伝送路・受信経路のメカニズムを迅速に特定できる機能。? 信号源にインパルス電圧を使用したネットワ-クアナライザ機能とFFTアナライザ機能を有し、回路網や配線網に内在する共振系とその過渡応答解析ができる時間・周波数の両領域の統合的な測定機能。
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