超微細表面のイオン分布を分析する機能性原子間力顕微鏡探針の開発

研究課題

研究代表者	木村恵一和歌山大学, システム工学部, 教授
研究期間 (年度)	2006
概要	原子間力顕微鏡(AFM)は広く使用されているが、化学的情報の取得が困難であるという欠点を持っている。機能性ホスト分子で修飾してイオン認識能を付与したAFM探針を用いると、探針-試料界面で生じるホスト-ゲスト間相互作用力をAFMで測定して、ゲストイオンの検出が可能になる。本課題では、イオン認識探針の開発により、AFMの高感度な力検出能に基づくイオンの検出と2次元マッピングの技術を実現する。この探針を用いれば、幅広い機能性材料表面のイオンマップ像と形状像の同時測定が可能となり、AFMによる材料評価技術が飛躍的に進歩する。また、AFMで表面化学分析が行えるようになると考えられる。