| 概要 | バイオセンサ,医療診断や医薬品開発などの分野において、様々材料に付着、あるいは、固定化されたタンパク質の構造を解明するニーズが高まっている。飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS)を用いる手法は、この課題を解決する有望な手法の一つである。本課題目標の実施内容は、TOF-SIMS を用いて、デバイス上に固定化されたタンパク質の表面部分の構造の実測である。目標は、この手法をいかなる試料に対しても適応可能な手法に一般化することである。TOF-SIMS は固定化されたタンパク質一分子層でも測定できるほど超高感度に試料最表面の化学情報を計測できるが、イオン化の際に発生するフラグメントの予測が難しいため、タンパク質測定スペクトルの解釈が困難であると考えられてきた。そこで、予測できないフラグメントを含めてスペクトル上の全ピークを対象としたスペクトル解析法と、ピーク同定結果をタンパク質のアミノ酸配列や立体構造と連携させるユーザーフレンドリーな解析システムを構築し、特定のタンパク質の表面部分の構造を明らかにする手法を開発する。すでにこの基礎技術は申請者が開発しており、実用化は可能と考えられる。
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