NC-AFM技術を基盤とする超高密度LSI対応ICテスター等の技術開発

研究課題

研究責任者	武笠幸一北海道大学, 大学院保健科学研究院
研究期間 (年度)	2001 – 2004
概要	原子分解能で絶縁物表面のスピンの観測に成功した。この研究成果に基づき、IT社会の実現に向けての重要な基盤技術である極低温非接触原子間力顕微鏡および交換相互作用力顕微鏡の実用化に向けての試験研究を実施するものである。極低温での非接触原子間力顕微鏡の商品は現在、市場には存在せず、本装置により極低温の原子分解能での原子像、電子状態、スピン状態の測定が可能となり、ナノ材料・デバイス実現のための計測・制御装置としてナノテクノロジー創成の基盤技術として重要なだけでなく、将来的にはスピンボルテックス、スピンメモリ、DNAのスピンマッピング・手術等への途を切り拓くものである。