次世代LSIテスト設計自動化システムの研究開発

研究課題

研究責任者	温暁青九州工業大学, 大学院, 教授
研究期間 (年度)	2004 – 2006
概要	本研究課題は、LSI内の如何なる複雑な故障をも精確に表現できるX故障モデルから派生する故障検出技術と故障診断技術を世界に先駆けて確立すると共に、LSIテスト設計自動化システムを初めて国産化するという戦略的目標を達成することによって、日本の半導体産業の持続的発展と福岡県のシリコンシーベルト構想の実現に大きく貢献する。