研究代表者 |
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| 研究期間 (年度) |
2004 – (非公開)
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| 概要 | 開発代表者のグループで蓄積してきた高性能シンチレータと新規信号処理に関する技術を発展させ、高時間分解能陽電子寿命測定装置と高性能のガンマ線計測装置を開発する。これらの装置は、共にガンマ線計測に関する基盤技術を応用したものであり、前者は半導体や鉄鋼分野にて非破壊下で用いられる微量格子欠陥検出器として、後者はがんの早期発見に有効であるTOF-PET装置に搭載する検出器として用いられ、共に現行装置と比して時間分解能の大幅向上が期待できる。
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