| 体系的番号 |
JPMJCR0404 |
| DOI |
https://doi.org/10.52926/JPMJCR0404 |
研究代表者 |
高田 昌樹 高輝度光科学研究センター, 利用研究促進部門 I, 主席研究員
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| 研究期間 (年度) |
2004 – 2009
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| 概要 | ナノ物質・材料の研究・開発分野では、デバイスの動作状態でのその場観察を含め、様々な環境下において、光・電場・磁場等の外場に対する微小材料や薄膜材料の動的応答の構造評価技術の重要性が高まっています。本研究では、これらの評価技術を実現するため、第三世代放射光SPring-8を用い、極短時間(ps)、極小空間(nm)という極限環境での構造解析装置の開発を目指します。また、この「X線ピンポイント構造計測」技術を用いて、新原理・新現象を探索し、その有用性を実証します。
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| 研究領域 | 物質現象の解明と応用に資する新しい計測・分析基盤技術 |
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