国際特許出願・審査過程と関連した審査品質ベンチマークの開発
| 体系的番号 |
JPMJRX14B1 |
| DOI |
https://doi.org/10.52926/JPMJRX14B1 |
研究代表者 |
和田 哲夫 学習院大学, 経済学部, 教授
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| 研究期間 (年度) |
2014 – 2017
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| 概要 | 国際的なビジネスを行うためには各国での特許の保護が必須であるが、特許審査の品質は特許庁間でばらつきが存在し、品質が低い特許庁では先行技術の発見漏れにより無効な特許権が成立し、訴訟の乱立を招来する。 本プロジェクトでは、特許審査の品質を定量的に国際比較評価するため、特許協力条約(PCT)に基づく国際出願など、各国の審査のタイミングに差のある国際的な出願を対象として、先行文献調査の包括性を統計的手法により分析し、審査の品質のベンチマークを開発する。このベンチマークによって、国際的な審査の品質の向上や国際的な制度の枠組みの方向性を示すとともに、出願人の特許取得の予測可能性を向上させる。
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| 研究領域 | 科学技術イノベーション政策のための科学 |
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