体系的番号 |
JPMJMI20C3 |
DOI |
https://doi.org/10.52926/JPMJMI20C3 |
研究代表者 |
小椎尾 謙 九州大学, 先導物質化学研究所, 准教授
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研究期間 (年度) |
2020 – 2021
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概要 | 近年の放射光科学技術の発展に伴い、様々なサイズスケールの散乱・回折測定を、短時間で、シングルマイクロメートルの局所領域で、構造評価を行うことが可能になった。このことは、様々な外部刺激下、例えば、力学変形下や環境制御下におけるその場構造評価を可能とした。しかしながら、これまでに微小変形を印加して破壊挙動を評価する疲労試験の試験過程におけるその場構造変化を評価した例はない。これは、疲労破壊に要する時間が極めて長いことや装置開発および疲労破壊現象自体が複雑であることによる。放射光X線散乱・回折測定によるマルチスケール構造解析に基づき、汎用の疲労破壊メカニズムの解明と寿命予知法の確立を実践する。炭素繊維やマトリクス高分子の結晶構造や結晶子サイズ、さらにはナノボイド・クラックからマクロな破壊現象を解明し、複合材料の疲労破壊メカニズムを解明する。
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研究領域 | 持続可能な社会の実現「モノの寿命の解明と延伸による使い続けられるものづくり」 |