超低電子ドーズSTEM法の開発と実空間原子・分子配列構造解析
| 体系的番号 |
JPMJPR21AA |
| DOI |
https://doi.org/10.52926/JPMJPR21AA |
研究代表者 |
関 岳人 東京大学, 大学院工学系研究科, 助教
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| 研究期間 (年度) |
2021 – 2024
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| 概要 | 超低電子ドーズ条件で原子・分子配列を超高分解能で直接観察できる走査透過型電子顕微鏡法（STEM）を開発し、従来では観察が不可能であった電子線照射損傷を受けやすい材料の局所原子・分子配列の解析を可能にします。さらに開発した手法を自在配列材料へと応用します。機能発現の場となる原子・分子の局所配列構造を直接観察し、材料機能との相関性を解明することで、配列指針の構築を目指します。
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| 研究領域 | 原子・分子の自在配列と特性・機能 |
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