| 体系的番号 |
JPMJPR2453 |
| DOI |
https://doi.org/10.52926/JPMJPR2453 |
研究代表者 |
井上 悠 産業技術総合研究所, 電子光基礎技術研究部門, 研究員
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| 研究期間 (年度) |
2024 – 2027
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| 概要 | 物質中のトポロジカル量子状態を巧みに操ることで、量子誤り耐性に優れた情報処理の実現が期待できます。本研究では、トポロジカル絶縁体を用いた先端素子の作製と、マイクロ波分光やスイッチング現象を利用した時間分解測定技術を組み合わせることで、トポロジカル量子情報処理応用を見据えた素子評価基盤を構築します。
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| 研究領域 | 物質と情報の量子協奏 |
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