クーロンブロッケードによる階段状変位電流の測定とその応用
| 体系的番号 |
JPMJPR00I9 |
| DOI |
https://doi.org/10.52926/JPMJPR00I9 |
研究代表者 |
真島 豊 東京工業大学, 大学院理工学研究科, 助教授
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| 研究期間 (年度) |
2000 – 2003
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| 概要 | 表面基板上の量子ドットに直流電圧を加えると、クーロンブロッケードにより微小ドットに電荷が入り、外部回路には周期的な変位電流が流れます。この変位電流を走査型振動プローブを用いて測定することにより、クーロンブロッケード条件を満たす微小ドットの電気的評価手法の確立を目指すとともに、単一電子素子と分子エレクトロニクスの両研究分野への応用を試みます。
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| 研究領域 | 組織化と機能 |
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