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2020 年度 事後評価書
ナノ慣性計測デバイス・システム技術とその応用創出
研究課題
戦略的な研究開発の推進
戦略的創造研究推進事業
CREST
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体系的番号
JPMJCR1433
DOI
https://doi.org/10.52926/JPMJCR1433
研究代表者
益 一哉
東京工業大学, フロンティア研究機構, 教授
研究期間 (年度)
2014 – 2021
研究領域
素材・デバイス・システム融合による革新的ナノエレクトロニクスの創成