2020 年度事後評価書

スパース位相回復法によるコヒーレント軟X線オペランド計測

研究課題

体系的番号	JPMJPR177A
DOI	https://doi.org/10.52926/JPMJPR177A
研究代表者	山崎裕一国立研究開発法人物質・材料研究機構, 統合型材料開発・情報基盤部門, 主任研究員
研究期間 (年度)	2017 – 2020
研究領域	計測技術と高度情報処理の融合によるインテリジェント計測・解析手法の開発と応用